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离子污染测试仪

离子污染测试仪

用途:
用于PCB电路板清洗工序前后离子污染程度的测试。

特点:
1.结构采用全封闭循环系统。
2.测试方法:静态。
3.可根据客户要求容量定制。
XLLR-500技术参数:

项       目

技术参数

测试模式

静 态 

测量精度(F·S)

±5%

功 率(W)

1300

萃取液容积( L)

约17 

萃取液比重

0.85~0.855

电 源/功率

220V AC~ 50HZ

工作环境温度(℃)

22 ±10 

工作时萃取液温度(℃)

40 ± 2 

电导率分析率(μs/cm)

0.001

电极分辨率范围(μs/cm)

0.0001 —20(等价Nacl量程:300-100000ug)

电导率测试基准(MΩ)

66-100

重    量(kg)

约200

外形尺寸

1450×6620×1050L×W×H mm)

测试板尺寸

100mm×600mm~700mm×700mm

水箱体积(mm)

720X70X720L*W*H)

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